11月5日，2011中國國際工業(yè)博覽會各類獎項揭曉，共評出創(chuàng)新獎12項。中國科學院展區(qū)的“地基全視景三維成像激光掃描儀”、“高分辨正電子發(fā)射斷層掃描儀——腦部及頭頸部成像系統(tǒng)”和“基于新型制冷技術(shù)的環(huán)境試驗設備”三個項目獲得創(chuàng)新獎。

　　地基全視景三維成像激光掃描儀是一種非接觸式主動測量系統(tǒng)，通過大面積高密度空間三維數(shù)據(jù)的采集，獲取物體空間位置信息�？缮钊氲綇碗s現(xiàn)場環(huán)境及空間中，獲取各種大型、復雜及不規(guī)則實體或?qū)嵕暗娜�維數(shù)據(jù)。

　　頭頸部正電子發(fā)射斷層掃描儀屬于高端醫(yī)學影像設備，技術(shù)指標已達到國際領先水平，并獨創(chuàng)了復合探測、掃描方式、異機圖像自動配準融合等新方法，可廣泛應用于腫瘤學、神經(jīng)學、心血管、基因工程、藥物開發(fā)等生物醫(yī)學領域。

　　基于新型制冷技術(shù)的環(huán)境試驗設備可在-170℃～ 150℃范圍內(nèi)實現(xiàn)±0.1℃的精確控溫，功耗減少20%～30%，體積減少28%，重量減少35%，成本降低30%以上，可用于各類產(chǎn)品在多種溫度工作環(huán)境下的溫度篩選、可靠性測試和耐候測試等。

　　全國政協(xié)常委蔣以任，工博會組委會副主任、上海市委常委、常務副市長楊雄，工博會組委會副主任兼秘書長、上海市副市長艾寶俊，上海市政府副秘書長沙海林、肖貴玉等出席頒獎典禮，并為獲獎代表頒獎。